Поиск по сайту

ГлавнаяПоиск по сайту

Информация

По вашему запросу найдено материалов: 1
Искать:
Толбанов О. П. , Редькин Р. А. , Тяжев А. В. , Колесникова И. И. , Саркисов С. Ю. , Кобцев Д. А. «Измерение времени жизни носителей заряда в SI-GaAs:Cr и EL2-GaAs методом pump-probe-терагерцовой спектроскопии» // Известия вузов. Физика 2020. №4 C.16-21